PresseMitteilungen KategorienNeuzugängeDie letzten Pressemitteilungen zu dem Thema spektroskopisches ellipsometerPresseMitteilungen zu dem Schlagwort spektroskopisches ellipsometer SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“ 03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ... NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR 31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ... Spektroskopisches Ellipsometer zur Messung aller 16 Müller Matrix Elemente 04.06.2014: Diese clevere Option erweitert den Anwendungsbereich der SENresearch E ...