Die letzten Pressemitteilungen zu dem Thema spektroskopische ellipsometer

PresseMitteilungen zu dem Schlagwort spektroskopische ellipsometer

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ...

NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR

31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ...

Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“

27.05.2014: Wir freuen uns, dass wir auch dieses Jahr wieder kompetente Referenten ...

SENTECH im regen Erfahrungsaustausch mit Ellipsometer-Nutzern auf dem 8. Ellipsometrie Workshop (WSE 2014) in Dresden

28.04.2014: Dieses dreitägige Event wurde vom Leibniz Institute für Polymerforsc ...

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