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Die letzten Pressemitteilungen zu dem Thema metrologie


PresseMitteilungen zu dem Schlagwort metrologie


SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ...

NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR

31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ...

Einladung zum Seminar “Ellipsometrie und Reflectometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015

18.05.2015: Veranstaltungsort: Commundo-Tagungshotel Stuttgart / Universitätscamp ...

Ein Quantum Strom - esz kalibriert künftig quantengenau

25.03.2015: Unter dem Josephson-Effekt versteht man einen physikalischen Effekt, d ...

Auftaktveranstaltung war voller Erfolg – Munich Calibration Day 2014

27.10.2014: „Der Munich Calibration Day war ein riesen Erfolg. Mit dieser außer ...

Interview zur Cleanzone: „Die Industrie braucht Rückführbarkeit in der Qualitätssicherung“

07.10.2013: Der Metrologe Dr. Kai Dirscherl, Forscher und Quality Manager am Danma ...



 

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