Elmos Semiconductor AG: Neuer Meilenstein für die HALIOS(R)-IC-Familie
(businesspress24) - (DGAP-Media / 22.05.2013 / 10:30)
HALIOS(R)-IC setzt neue Maßstäbe im Hinblick auf Funktion und Präzision von
Multifunktions-Wand-Scannern
Der Einsatz eines HALIOS(R)-ICs in einem Multifunktions-Wand-Scanner
markiert einen weiteren Meilenstein für diese Elmos-Chip-Familie. Erstmalig
wird ein IC mit der HALIOS(R)-Technologie von Elmos nicht nur in einem
optischen Sensorsystem verwendet, sondern auch in einer kapazitiven
Anwendung. Der neue leistungsstarke Zircon(R) MultiScanner(TM) x85
OneStep(TM), der auf der einzigartigen Elmos-Technologie basiert, erkennt
alle relevanten Materialien in Wänden, Böden und Decken. Dies ist ein Beleg
für die Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Vielseitigkeit der HALIOS(R)
-Technologie von Elmos.
Das Gerät enthält den Elmos-IC E909.05. Heutzutage wird die Technologie
schon für viele optische Anwendungen eingesetzt, wie Regen-/Lichtsensoren,
Mensch-Maschine-Schnittstellen im neuen VW Golf VII und in GM Cadillac
Modellen oder auch in Schaltern für Leuchten.
Als erster seiner Art verwendet der Zircon MultiScanner x85 während des
Kalibrierungsprozesses die patentierten aktiven und kapazitiven
HALIOS(R)-Messtechniken von Elmos, um Fehler bei der Ortung zu minimieren,
und wechselt zwischen den Betriebsmodi, um zusätzlich spannungsführende
Stromleitungen zu identifizieren oder Holz und Metall zu finden. Der
Benutzer muss nur auf einen Knopf drücken, um den Mittelpunkt eines
Zielobjekts bis zu einer Tiefe von 50 mm genau zu orten und digital zu
erkennen. Wird der x85 vor dem Bohren, Schneiden oder Befestigen verwendet,
verhindert man daher u.U. Schäden an Warmwasser-Fußbodenheizsystemen und
erspart sich somit kostspielige Schäden, teure Reparaturen und unnötige
Zeit für Bauarbeiten.
John Stauss, President von Zircon, ist begeistert von den neuen
Möglichkeiten. 'Die Realisierung der Funktionen in nur einem Gerät ist
beispiellos. Der x85 kann sogar Pex-Rohre genau orten und
spannungsführende, unabgeschirmte Leitungen sowie Holz und Metall erkennen
- und löst somit eine ganze Reihe von Problemen im gewerblichen,
industriellen und privaten Bereich. Der x85 ist einer der größten
technischen Fortschritteüberhaupt', sagt Stauss in der Pressemitteilung
für den Zircon MultiScanner x85.
Der E909.05 basiert auf dem patentierten Messverfahren, das bisher bei
hochwertigen optischen Sensoren angewandt wurde. Es ist weltweit das
einzige Verfahren, das mit echter physikalischer Kompensation arbeitet. Bei
optischen Anwendungen ermöglicht es die weitgehende Kompensation
parasitärer physikalischer Effekte (wie Umgebungslicht) in der Fotodiode.
Zusätzlich können diese Sensoren für extrem geringen Stromverbrauch und
konkurrenzlose Temperaturstabilität ausgelegt werden. Die Anwendung von
HALIOS(R) in anderen Sensorprinzipien (z.B. kapazitiv) ist der Schlüssel zu
nie dagewesener Präzision in der Messung. Beim Zircon MultiScanner x85
werden diese hervorragenden Eigenschaften zum ersten Mal für nicht-optische
Detektionsverfahren genutzt.
Der Zircon MultiScanner x85 wird in vielen US-amerikanischen Baumärkten
erhältlich sein.
Die Elmos Semiconductor AG ist Entwickler und Hersteller von Systemlösungen
auf Halbleiterbasis. Seitüber 25 Jahren machen unsere Chips Fahrzeuge und
Industrie- sowie Konsumgüterprodukte energiesparender und effizienter.
Kontakt: Elmos Semiconductor AG, Janina Rosenbaum, Heinrich-Hertz-Str. 1,
44227 Dortmund, Telefon: 0231-7549-0, Direkt: -287, Fax: 0231-7549-548,
eMail: invest(at)elmos.com, www.elmos.com
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212428 22.05.2013
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