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Jenoptik bietet neuartige UFO ProbeTM Card für PIC-Wafer-Level-Test

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(PresseBox) - Als Partner der Halbleiter-Equipment-Industrie sowie von Test-Anbietern und -Anwendern bietet Jenoptik eine neuartige optische Lanpassbar.

Mit der neuen UFO ProbeTM-Technologie bedient Jenoptik den Markt f

Die neuartige hybride Probecard vereint elektrische und optische Preziellen Kundenanforderungen wie beispielsweise individuelles PIC-Layout und spezifische Testanordnung anpassbar. Der erste Serienlauf wurde erfolgreich mit dieser neuen Technologie gemessen.

Jenoptik kooperiert mit Probecard-Herstellern, um das optische Modul in entsprechend etablierte und erprobte Nadeltechnologien zu integrieren. Die erste Plattformvariante der UFO ProbeTM ist im Europakartenformat mit Cantilever-Nadeln verf

& Optics

Als global agierender Technologie-Konzern ist Jenoptik in vier Divisionen aktiv. Optische Technologien sind die Basis unseres Gesch

Die Division Light & Optics ist ein weltweit aktiver OEM-Anbieter von L& Mobility sowie Sicherheit und wissenschaftliche Institute.

Als Entwicklungs- und Produktionspartner b& Optics entscheidende Schlcher Technologien optimal zu meistern.



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Datum: 18.11.2020 - 08:38 Uhr
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