Mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur
Berlin/Nürnberg, 20. Juni 2018. Vom 5. bis 7. Juni 2018 präsentierte der Berliner Dienstleister TechnoLab auf Europas führender Veranstaltung für Systemintegration in der Mikroelektronik, der SMT in Nürnberg, Neuerungen und bewährte Analyseverfahren für das Aufspüren von Fehlerursachen an Leiterplatten, elektronischen Baugruppen, Komponenten und Materialien. Im Fokus standen mikroskopische Untersuchungen, die anhand eines Mikroskops Typ Leica DM2700 vor Ort an Stand 160 in Halle 4 an Beispielen demonstriert wurden. Zudem konnten sich Interessenten zu den Einsatzmöglichkeiten des FTIR-Spektrometers für die Materialidentifizierung und Fehleranalyse informieren.
(businesspress24) - Nahezu jede Industrie, die mit elektronischen Komponenten arbeitet, ist heute auf eine schnelle und effiziente Schadensanalytik angewiesen, um den finanziellen Gesamtschaden f
Im Zuge hochflexibler Innovationen ergeben sich f
TechnoLab als langjogen.
Folgendes stand auf der SMT im Mittelpunkt:
-Mikroskopische Testverfahren: Das zur Demonstration verwendete Mikroskop (Typ Leica DM2700) ist ein aufrechtes Materialmikroskop mit einer Vergr
-Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie (FTIR):
F
Nat
[Bildunterschriften: Schadgastest nach IEC 60068-2-60 zur Pr
Bzw.:
Pr
Bildnachweis: TechnoLab]
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Über TechnoLab
TechnoLab ist einer der führenden Dienstleister im Bereich Umweltsimulation und Schadensanalytik. Das Unternehmen bietet Materialtests, Qualitätsprüfungen, Zertifizierungen nach ISO und DIN sowie Schadens-Analysen und unterstützt Entwickler bei der Optimierung ihres Fertigungsprozesses. Die Dienstleistungen kommen vor allem in der Elektronik-Industrie, der Elektronikfertigung, aber auch in vielen anderen innovativen Industriebereichen zum Einsatz. Die Umweltsimulationstests prüfen die Beständigkeit von Materialien, einzelnen Bauelementen, Baugruppen sowie ganzen Geräten und lassen sich kundenindividuell anpassen. Geprüft wird nach jeglichen chemisch-biologischen, physikalischen oder sonstigen Einwirkungen wie IP-Schutzarten, Temperaturwechsel/-schock, Korrosionsverträglichkeit oder Lichtechtheit.
Mehr unter www.technolab.de
siehe Pressekontakt
Unternehmenskontakt:
TechnoLab GmbH, Wohlrabedamm 13, 13629 Berlin
Umweltsimulation:
Kris Karbinski, T: +49-(0)30- 3641105-21, F: +49-(0)30- 3641105-69. E-Mail: kris.karbinski(at)technolab.de
Analytik:
Lutz Bruderreck, T: +49-(0)30- 3641105-12, F: +49-(0)30- 3641105-69. E-Mail: lutz.bruderreck(at)technolab.de
Pressekontakt:
Konzept PR GmbH, Proviantbachstr. 1, 86153 Augsburg
Thomas K.J. Kraus: T: +49-821-34300-11, F: +49-821-34300-77, E-Mail: th.kraus(at)konzept-pr.de
Alexandra Linde, T: +49-821-34300-26, F: +49-821-34300-77, E-Mail: a.linde(at)konzept-pr.de
Datum: 20.06.2018 - 11:38 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1521307
Anzahl Zeichen: 3532
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Kris Karbinski
Stadt:
Berlin
Telefon: 03036411050
Kategorie:
Optische Technologien
Meldungsart: Messeinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 20.06.2018
Anmerkungen:
Diese Pressemitteilung wurde bisher 129 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"Mit FTIR-Spektroskopie und Hochleistungs-Mikroskopen kleinsten Defekten in der Mikroelektronik auf der Spur
"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
TechnoLab GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).
